満員御礼！お申込みを締切りさせて頂きました。

　半導体テスティングをより安価に、かつ個人ユースで利用したい。そんな潜在ニーズに幅広く応えるのが、昨秋に営業を開始したCloud Testing Service㈱（CTS）です。小型テスト端末を利用者それぞれに貸与。必要なテストアルゴリズムはクラウドからダウンロードして実行。低コストでオンデマンドなテストシステムです。CTSが提供するアプリの一つに、模倣および不良LSIをスクリーニングするテスト機能があり、近年、その利用が高まっています。
　そこで第２回目のCTSセミナーでは、最終製品であるセット機器・電子機器に着目し、「半導体の新アプリとEMSのビジネスモデルを探る」をテーマに企画しました。前者はもちろん医療分野で、カプセル内視鏡が焦点となります。後者は世界最大のEMSであるFoxconnを主軸に、講演と参加者の皆様方からのご質問に可能な限りお答えします。ぜひ同セミナーにご参加いただき、そのビジネスモデルとともに必要な計測機能を、貴社の事業戦略のための重要情報としてお役立てください。

開催日	2013年11月28日（木）　14:30～16:20（14:00開場）／懇親会　16:30～17:30
参加費	無料（懇親会含む）ただし、事前登録制
会場	みなとみらいセンタービル　11F ※照会先TEL：045-227-6416(Cloud Testing Service㈱担当：高橋、尾池)
共催	（株）産業タイムズ社／Cloud Testing Service（株）