電子デバイス産業新聞(半導体産業新聞)
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セミナー
CTS(Cloud Testing Service)セミナー
半導体マーケットに乱入する規格外製品
―― 模倣品・不良LSIの流通を駆逐するために ――

  開催日
2013年11月7日(木) 14:30~16:20(14:00開場)
        懇親会 16:30~17:30
  会場
みなとみらいセンタービル 会議室
  参加費
無料(懇親会含む)ただし、事前登録制
  定員
30名限定

多数のご参加ありがとうございました。


 半導体テスティングをより安価に、かつ個人ユースで利用したい。そんな潜在ニーズに幅広く応えるのが、昨秋に営業を開始したCloud Testing Service㈱(CTS)です。小型テスト端末を利用者それぞれに貸与。必要なテストアルゴリズムはクラウドからダウンロードして実行。低コストでオンデマンドなテストシステムです。CTSが提供するアプリの一つに、模倣および不良LSIをスクリーニングするテスト機能があり、近年、その利用が高まっています。
 そこで第1回目のCTSセミナーでは、健全な半導体市場を脅かす模倣品、不良品対策をテーマに「半導体マーケットに乱入する規格外製品」を企画。デバイス対策および商社流通対策の両面から、その取り組みを探っていきます。ファブレス、設計はもちろんのこと、流通や商社、ベンチャーの方々など、ぜひ同セミナーにご参加いただき、品質保証・信頼性の面から事業活動にお役立てください。
■ プログラム
14:30-14:40
 開催の挨拶
Cloud Testing Service㈱ 代表取締役社長 木村 学
14:40-15:25(45分)
 模倣品対策を睨む、物理的に複製不可能なデバイス
~ PUF:Physical Unclonable Function ~
電気通信大学 情報理工学研究科 情報・通信工学専攻 教授 佐藤 証
15:25-15:35 ブレイク
15:35-16:20(45分)
 模造品・不良品を排除したマーケットを構成するために
~ 総合デバイス商社が挑む健全な流通市場 ~
コアスタッフ㈱ 代表取締役 戸沢 正紀
16:30-17:30
 講師・参加者を囲んで懇親会
※講演者、講演タイトルは都合により変更することがありますので、ご了承下さい。
■ セミナー概要
  開催日
2013年11月7日(木) 14:30~16:20(14:00開場)/懇親会 16:30~17:30
  参加費
無料(懇親会含む)ただし、事前登録制
  会場
みなとみらいセンタービル 会議室
  主催
Cloud Testing Service(株)
  後援
(株)産業タイムズ社
■問い合わせ先
○ (株)産業タイムズ社 事業開発部
    FAX:03-5835-5494 TEL:03-5835-5894
    Email:pd@sangyo-times.co.jp