多数のご参加ありがとうございました。

　半導体テスティングをより安価に、かつ個人ユースで利用したい。そんな潜在ニーズに幅広く応えるのが、昨秋に営業を開始したCloud Testing Service㈱（CTS）です。小型テスト端末を利用者それぞれに貸与。必要なテストアルゴリズムはクラウドからダウンロードして実行。低コストでオンデマンドなテストシステムです。CTSが提供するアプリの一つに、模倣および不良LSIをスクリーニングするテスト機能があり、近年、その利用が高まっています。
　そこで第１回目のCTSセミナーでは、健全な半導体市場を脅かす模倣品、不良品対策をテーマに「半導体マーケットに乱入する規格外製品」を企画。デバイス対策および商社流通対策の両面から、その取り組みを探っていきます。ファブレス、設計はもちろんのこと、流通や商社、ベンチャーの方々など、ぜひ同セミナーにご参加いただき、品質保証・信頼性の面から事業活動にお役立てください。

開催日	2013年11月7日（木）　14:30～16:20（14:00開場）／懇親会　16:30～17:30
参加費	無料（懇親会含む）ただし、事前登録制
会場	みなとみらいセンタービル　会議室
主催	Cloud Testing Service（株）
後援	（株）産業タイムズ社